Сканирующий микроскоп Jeol JSM 6400 F

Сканирующий микроскоп Jeol JSM 6400 F.

Аксессуары: Большая камера для образцов с 4-дюймовым портом для образцов, моторизация стола для образцов Система Oxford EDX Детектор пентафет (N2 Dewar).

Программное обеспечение ISIS с разрешением оцифровки изображения от 1,5 до 3 нм, в зависимости от рабочего расстояния (WD).

Принцип: катод эмиссии холодного поля, NEW!

Генерация вакуума: RP / DP / IGP.

Вакуумный пистолет: около 2x10-8 Па

Вакуумная камера пробы прибл .: 2x10-4 Па

Анализ сигналов: SEI / AT и EDX.

Необходимый размер помещения: минимум 3,0 х 3,20 м.

Год выпуска 1996-1998

 

Стоимость: 7 158 800,00 руб.